1. 环境与比特耦合 ≈ 一次非预期 Z 测量：|+⟩ → |0⟩（p = 1/2）或 |1⟩（p = 1/2）
2. 复原实验重做：坍缩后的比特再经 H 并测 Z——当初坍到 |0⟩ 得 0、坍到 |1⟩ 得 1，各 p = 1/2 → 总分布 50/50，不再是第 10 页的 100%——H 复原术失效，相位确实丢失，量子比特退化为普通经典比特
3. 三类干扰源（一行一个）：杂散光子撞击 / 周围磁场波动 / 设备温度热振动
4. 工程对策（数值）：T → 0 K = −273.15℃（热运动几乎停止）；极低温 + 电磁屏蔽 → 延长相干时间 T_coh